Spektrografische Materialanalyse anhand von Multifrequenter Induktiver Messung
EP3286558
Art A1
28. Februar 2018
Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3286558
- Aktenzeichen
- EP16747294
- Anmeldetag
- 4. Februar 2016
- Veröffentlichung
- 28. Februar 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N27/90G01R27/00A61B5/053
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Texas Instruments Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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