Kristallmaterial, Kristallherstellungsverfahren, Strahlungsdetektor, Vorrichtung zur Zerstörungsfreien Inspektion und Bildgebungsvorrichtung
EP3305949
Art B1
11. März 2020
Anmelder: Tohoku University, C&A Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3305949
- Aktenzeichen
- EP16800143
- Anmeldetag
- 27. Mai 2016
- Veröffentlichung
- 11. März 2020
- Erteilung
- 11. März 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C09K11/79
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tohoku University
C&A Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München