System und Verfahren zur Messung der Reflektierten Verzerrung in Konturierten Glasscheiben

EP3314236 Art B1 2. Juli 2025

Anmelder: Glasstech, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3314236
Aktenzeichen
EP16814889
Anmeldetag
17. Mai 2016
Veröffentlichung
2. Juli 2025
Erteilung
2. Juli 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/00C03B11/08G01N1/04C03B27/04G01B11/24G01B11/25G01N21/958C03B23/023G01N21/89G05B1/00G01N21/84G01N21/88
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Glasstech, Inc.
Land
🇺🇸 USA

Fachgebiete

Anorganische Chemie & Werkstoffe Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik

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