Gitterstruktur für eine Optische Positionsmesseinrichtung
EP3321641
Art B1
29. Juli 2020
Anmelder: Dr. Johannes Heidenhain GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3321641
- Aktenzeichen
- EP17198730
- Anmeldetag
- 27. Oktober 2017
- Veröffentlichung
- 29. Juli 2020
- Erteilung
- 29. Juli 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D5/38G01D5/347G02B5/18
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Dr. Johannes Heidenhain GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Dr. Johannes Heidenhain
Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.
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