Rastersondenmikroskopiesystem zum Abbilden von Nanostrukturen mit Hohem Aspektverhältnis an der Oberfläche einer Probe

EP3322995 Art A1 23. Mai 2018

Anmelder: Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3322995
Aktenzeichen: EP16745545
Anmeldetag: 14. Juli 2016
Veröffentlichung: 23. Mai 2018
Rechtsraum: EP
IPC: G01Q70/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 TNO (Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek)

Niederländisches, unabhängiges Forschungsinstitut für angewandte Naturwissenschaften mit Sitz in Den Haag. TNO betreibt anwendungsorientierte Forschung und Entwicklung in Bereichen wie Energie, Mobilität, Gesundheit, Verteidigung und Informationstechnologie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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