Segmentierter Detektor für Vorrichtung mit Geladenem Teilchenstrahl
EP3329507
Art A1
6. Juni 2018
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3329507
- Aktenzeichen
- EP16833516
- Anmeldetag
- 22. Juli 2016
- Veröffentlichung
- 6. Juni 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/244H01J37/28H01J37/26H01J37/22G01N21/64
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Weitere Vertreter
-
Boult Wade Tennant
Boult Wade Tennant · London