Mikroskopie mit Raman Oberhalb des Kritischen Winkels (sar)

EP3336524 Art A1 20. Juni 2018

Anmelder: Universität Zürich 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3336524
Aktenzeichen: EP16204934
Anmeldetag: 19. Dezember 2016
Veröffentlichung: 20. Juni 2018
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/65

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Universität Zürich
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 Universität Zürich

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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