Vorrichtung und Verfahren zur Zielerfassung anhand von Fotothermalem Speckle-Nachweis

EP3338075 Art B1 10. Juni 2020

Anmelder: Massachusetts Institute of Technology 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3338075
Aktenzeichen
EP16747920
Anmeldetag
20. Juni 2016
Veröffentlichung
10. Juni 2020
Erteilung
10. Juni 2020
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/17G01N21/63
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Massachusetts Institute of Technology
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Massachusetts Institute of Technology

US-amerikanische Universität mit Sitz in Cambridge, Massachusetts, eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen. Aktiv in nahezu allen technischen und naturwissenschaftlichen Feldern, darunter Informatik, Ingenieurwesen, Materialwissenschaften und Biotechnologie.

5.635 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen