Oberflächenformmessvorrichtung, Oberflächenformmessverfahren und Oberflächenformmessprogramm
EP3346232
Art B1
28. Februar 2024
Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3346232
- Aktenzeichen
- EP16841933
- Anmeldetag
- 31. August 2016
- Veröffentlichung
- 28. Februar 2024
- Erteilung
- 28. Februar 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/24G01B11/245G01B21/04G01B21/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nikon Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München