Rückstreuungsinspektionssystem und Rückstreuungsinspektionsverfahren mit mehreren Ansichten
Anmelder: Tsinghua University, Nuctech Company Limited 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3364176
- Aktenzeichen
- EP18156264
- Anmeldetag
- 12. Februar 2018
- Veröffentlichung
- 19. Mai 2021
- Erteilung
- 19. Mai 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/203G01V5/00G01N23/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tsinghua University
Nuctech Company Limited - Land
- 🇨🇳 China
Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.
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Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.
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