Emissionsrauschkorrektur einer Quelle für Geladene Partikel

EP3364442 Art A1 22. August 2018

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3364442
Aktenzeichen
EP18155216
Anmeldetag
6. Februar 2018
Veröffentlichung
22. August 2018
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/24
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
FEI Company
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

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