Hf/mm-Wellen-Spitzenwertdetektor mit Kalibrierung mit Hohem Dynamikbereich
EP3365691
Art A1
29. August 2018
Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3365691
- Aktenzeichen
- EP16858444
- Anmeldetag
- 24. Oktober 2016
- Veröffentlichung
- 29. August 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R19/04G01S7/03G01S7/35G01S7/40G01S13/93
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Texas Instruments Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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