Aberrationsmessung in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
EP3370247
Art A1
5. September 2018
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3370247
- Aktenzeichen
- EP18159059
- Anmeldetag
- 28. Februar 2018
- Veröffentlichung
- 5. September 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/153
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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