Hochaufgelöste Entfernungsmessung mittels Interferometrie

EP3388862 Art A1 17. Oktober 2018

Anmelder: Leica Geosystems AG 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3388862
Aktenzeichen
EP17166662
Anmeldetag
13. April 2017
Veröffentlichung
17. Oktober 2018
Rechtsraum
EP
IPC
G01S17/32G01S17/36G01S7/491
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Leica Geosystems AG
Land
🇨🇭 Schweiz
🇨🇭 Leica Geosystems

Schweizer Hersteller von Vermessungs- und Geoinformationstechnik, entwickelt Instrumente und Software für Landvermessung, Bauwesen und geografische Datenerfassung.

612 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen