Verfahren und Systeme für Nahfeld-Mikrowellenbildgebung

EP3391081 Art A1 24. Oktober 2018

Anmelder: Massachusetts Institute of Technology 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3391081
Aktenzeichen: EP16876195
Anmeldetag: 12. September 2016
Veröffentlichung: 24. Oktober 2018
Rechtsraum: EP
IPC: G01S13/00G01S13/86G01S13/88G01S13/89G01V3/12

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Massachusetts Institute of Technology
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Massachusetts Institute of Technology

US-amerikanische Universität mit Sitz in Cambridge, Massachusetts, eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen. Aktiv in nahezu allen technischen und naturwissenschaftlichen Feldern, darunter Informatik, Ingenieurwesen, Materialwissenschaften und Biotechnologie.

5.635 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von