Kanonenlinsendesign in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop

EP3399537 Art B1 16. Oktober 2019

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3399537
Aktenzeichen
EP18170249
Anmeldetag
1. Mai 2018
Veröffentlichung
16. Oktober 2019
Erteilung
16. Oktober 2019
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/065H01J37/067H01J37/145// H01J37/28
Offizieller Volltext

Abstract

A charged particle microscope comprising: - A vacuum enclosure (2) ; - A source (4) for producing a beam of charged particles; - A specimen holder (H) for holding a specimen; - An illuminator, provided between said source and specimen holder, and comprising in a propagation direction of said beam: ª A source lens (8a, 8b); ª A condenser system (10); - A detector (22) for detecting radiation emanating from the specimen in response to irradiation by said beam, wherein said source lens is a compound lens, comprising in said propagation direction: - A magnetic lens (8a) comprising permanent magnets (16) disposed outside said vacuum enclosure but produce a magnetic field within it; - A variable electrostatic lens (8b).

Anmelder

Firma
FEI Company
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

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