Optische Aufnahme, Optisches Modul und Messverfahren

EP3401717 Art A1 14. November 2018

Anmelder: Enplas Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3401717
Aktenzeichen: EP16883759
Anmeldetag: 16. Dezember 2016
Veröffentlichung: 14. November 2018
Rechtsraum: EP
IPC: G02B6/42H01L31/0232H01S5/022

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Enplas Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Enplas

Enplas ist ein japanischer Hersteller optischer und feinmechanischer Kunststoffkomponenten, unter anderem für Displays, Steckverbinder und Halbleitertests. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Optik und Fototechnik sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Mess- und Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Optik & Fototechnik

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