Quantitative Spektroskopie der Dichte von Elektronischen Fehlern in einem in eine Dünnschicht Integrierten Foto-Rezeptor, insbesondere in einer Solarzelle
Anmelder: Centre National de la Recherche Scientifique, Institut Photovoltaïque d'Ile de France - IPVF, Ecole Polytechnique, Total Marketing Services, Electricité de France 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3407055
- Aktenzeichen
- EP18172737
- Anmeldetag
- 16. Mai 2018
- Veröffentlichung
- 28. November 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/95G01N21/64H01L21/66H02S50/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Centre National de la Recherche Scientifique
Institut Photovoltaïque d'Ile de France - IPVF
Ecole Polytechnique
Total Marketing Services
Electricité de France - Land
- 🇫🇷 Frankreich
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