Probenherstellung und Untersuchung in einem Doppelstrahlladungsträgerteilchenmikroskop
EP3432338
Art B1
23. Oktober 2019
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3432338
- Aktenzeichen
- EP17182299
- Anmeldetag
- 20. Juli 2017
- Veröffentlichung
- 23. Oktober 2019
- Erteilung
- 23. Oktober 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/20H01J37/305G01N1/32
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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