Eingebauter Selbsttest für A/d-Wandler
EP3432474
Art A1
23. Januar 2019
Anmelder: NXP USA, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3432474
- Aktenzeichen
- EP18182998
- Anmeldetag
- 11. Juli 2018
- Veröffentlichung
- 23. Januar 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H03M1/10// H03M1/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP USA, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
NXP USA
US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.
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