Vorrichtung im Zusammenhang mit der Analyse einer Dünnschicht und Herstellungsverfahren dafür
EP3449210
Art B1
7. Juni 2023
Anmelder: Chipmetrics Oy, Teknologian Tutkimuskeskus VTT Oy 🇫🇮
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3449210
- Aktenzeichen
- EP17725289
- Anmeldetag
- 25. April 2017
- Veröffentlichung
- 7. Juni 2023
- Erteilung
- 7. Juni 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B21/00C23C14/00C23C16/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Chipmetrics Oy
Teknologian Tutkimuskeskus VTT Oy - Land
- 🇫🇮 Finnland
🇫🇮
VTT Technical Research Centre of Finland
VTT ist eine staatliche finnische Forschungseinrichtung mit Sitz in Espoo, die angewandte Forschung und Entwicklung in Bereichen wie Technik, Energie und Materialwissenschaften betreibt.
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Vertreten von
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