Vorrichtung im Zusammenhang mit der Analyse einer Dünnschicht und Herstellungsverfahren dafür

EP3449210 Art B1 7. Juni 2023

Anmelder: Chipmetrics Oy, Teknologian Tutkimuskeskus VTT Oy 🇫🇮

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3449210
Aktenzeichen
EP17725289
Anmeldetag
25. April 2017
Veröffentlichung
7. Juni 2023
Erteilung
7. Juni 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G01B21/00C23C14/00C23C16/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Chipmetrics Oy
Teknologian Tutkimuskeskus VTT Oy
Land
🇫🇮 Finnland
🇫🇮 VTT Technical Research Centre of Finland

VTT ist eine staatliche finnische Forschungseinrichtung mit Sitz in Espoo, die angewandte Forschung und Entwicklung in Bereichen wie Technik, Energie und Materialwissenschaften betreibt.

778 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen