Verfahren zur Beurteilung der Qualität einer Oxidhalbleiterdünnschicht, Verfahren zur Verwaltung der Qualität einer Oxidhalbleiterdünnschicht und Vorrichtung zur Herstellung eines Halbleiters mit Diesem Verfahren zur Verwaltung der Qualität
EP3451369
Art A1
6. März 2019
Anmelder: Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3451369
- Aktenzeichen
- EP17789605
- Anmeldetag
- 26. April 2017
- Veröffentlichung
- 6. März 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N22/00G01R31/265G01R31/26H01L29/786
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.)
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kobe Steel
Japanischer Mischkonzern mit Sitz in Kobe, gegründet 1905. Tätigkeitsfelder umfassen Stahl- und Aluminiumerzeugnisse, Maschinenbau sowie Werkstofftechnik.
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