Objektdetektionssystemkalibrierung

EP3454075 Art B1 6. Oktober 2021

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3454075
Aktenzeichen
EP17190365
Anmeldetag
11. September 2017
Veröffentlichung
6. Oktober 2021
Erteilung
6. Oktober 2021
Rechtsraum
EP
IPC
G01S13/931G01S7/491G01S17/87G01S17/931H04L12/403H04L12/40G01S7/03G01S7/40G01S7/00G01S13/87G01S7/497
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.818 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen