Verfahren und System zur Detektion von Defekten eines Lithographischen Musters

EP3454128 Art B1 29. Januar 2020

Anmelder: IMEC vzw 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3454128
Aktenzeichen
EP17190509
Anmeldetag
12. September 2017
Veröffentlichung
29. Januar 2020
Erteilung
29. Januar 2020
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/20G01N21/956G06T7/00G01N21/88
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
IMEC vzw
Land
🇧🇪 Belgien
🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

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