Verfahren zur Korrektur von Messwerten eines Laser-Scanners und Vorrichtung für das Verfahren

EP3460523 Art B1 2. September 2020

Anmelder: Topcon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3460523
Aktenzeichen: EP18193972
Anmeldetag: 12. September 2018
Veröffentlichung: 2. September 2020
Erteilung: 2. September 2020
Rechtsraum: EP
IPC: G01S17/89G01S7/481

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Topcon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

710 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von