Probeflüssigkeitoberflächenpositionsmessvorrichtung und Probeflüssigkeitoberflächenpositionsmessverfahren
EP3467452
Art B1
27. Juli 2022
Anmelder: Hitachi High-Tech Corporation, Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3467452
- Aktenzeichen
- EP17802464
- Anmeldetag
- 11. April 2017
- Veröffentlichung
- 27. Juli 2022
- Erteilung
- 27. Juli 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01F23/292G01N35/10G01N15/04G01N15/05G01N35/00// G01N33/49
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Hitachi High-Tech Corporation
Hitachi High-Technologies Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840 Patente in unserer Datenbank