Analysesystem und Verfahren zur Bestimmung des Zeitlichen Ersatzes eines Optischen Elements

EP3473999 Art A1 24. April 2019

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3473999
Aktenzeichen: EP18200934
Anmeldetag: 17. Oktober 2018
Veröffentlichung: 24. April 2019
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/27G01N21/31G01N35/00G01J3/02G01N21/15

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von