Neigungsmessung und -Korrektur des Deckglases im Strahlengang eines Mikroskops
EP3479157
Art B1
26. Januar 2022
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3479157
- Aktenzeichen
- EP17734077
- Anmeldetag
- 29. Juni 2017
- Veröffentlichung
- 26. Januar 2022
- Erteilung
- 26. Januar 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G02B21/24G02B21/36
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
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Fachgebiete
Vertreten von
Meyer, Jork
Jena, Deutschland
25
Patente gesamt
6
Fachgebiete
1
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Schwerpunkte