Vorrichtung zur Elektromagnetischen Strukturcharakterisierung

EP3488778 Art B1 19. Juli 2023

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3488778
Aktenzeichen
EP18206595
Anmeldetag
15. November 2018
Veröffentlichung
19. Juli 2023
Erteilung
19. Juli 2023
Rechtsraum
EP
IPC
A61B5/05A61B5/053G01N27/02H04B5/00// A61B5/0205A61B5/08
Offizieller Volltext

Abstract

One example discloses a device for electromagnetic structural characterization, including: a controller having an electromagnetic transmitter output and a communications interface; wherein the controller is configured to send a signal over the electromagnetic transmitter output that causes an electromagnetic transmitter to generate a first electrical field (E1) and a first magnetic field (HI); wherein the controller configured to receive over the communications interface a second electric field (E2) and a second magnetic field (H2) received by an electromagnetic receiver; wherein the first electrical field and the first magnetic field correspond to when the electromagnetic transmitter is at a first location proximate to a structure and the second electrical field and the second magnetic field correspond to when the electromagnetic receiver is at a second location proximate to the structure; and wherein the controller is configured to calculate an impedance based on the electric and magnetic fields interacting with the structure.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.818 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen