Verfahren zur Bestimmung der Dicke einer Probenhalterung im Strahlengang eines Mikroskops
EP3499177
Art A3
11. September 2019
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3499177
- Aktenzeichen
- EP18209787
- Anmeldetag
- 3. Dezember 2018
- Veröffentlichung
- 11. September 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/06G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
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Fachgebiete
Vertreten von
Meyer, Jork
Jena, Deutschland
25
Patente gesamt
6
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1
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