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EP3499179 Art A1 19. Juni 2019

Anmelder: Enplas Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3499179
Aktenzeichen: EP17839137
Anmeldetag: 13. Juli 2017
Veröffentlichung: 19. Juni 2019
Rechtsraum: EP
IPC: G01B11/26G01B11/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Enplas Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Enplas

Enplas ist ein japanischer Hersteller optischer und feinmechanischer Kunststoffkomponenten, unter anderem für Displays, Steckverbinder und Halbleitertests. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Optik und Fototechnik sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Mess- und Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

606 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von