Verfahren, Vorrichtung und System zum Entfernten Tiefenlernen zur Mikroskopischen Bildrekonstruktion und -Segmentierung
EP3499459
Art A1
19. Juni 2019
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3499459
- Aktenzeichen
- EP17208266
- Anmeldetag
- 18. Dezember 2017
- Veröffentlichung
- 19. Juni 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T7/174
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Weitere Vertreter
-
Janssen, Francis-Paul
FEI Company · Eindhoven