Messsystem, Substratverarbeitungssystem und Vorrichtungsherstellungsverfahren
EP3521932
Art A1
7. August 2019
Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3521932
- Aktenzeichen
- EP17855900
- Anmeldetag
- 20. September 2017
- Veröffentlichung
- 7. August 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F9/00G01B21/00G03F7/20H01L21/68
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nikon Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München