Reinheitsmonitor mit Piezoelektrischer Kristallmikrowaage
EP3526595
Art B1
3. Juni 2020
Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3526595
- Aktenzeichen
- EP17791240
- Anmeldetag
- 11. Oktober 2017
- Veröffentlichung
- 3. Juni 2020
- Erteilung
- 3. Juni 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N29/02G01N29/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Raytheon Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Jackson, Richard Eric
London, Großbritannien
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Patente gesamt
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25
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Carpmaels & Ransford LLP
Carpmaels & Ransford LLP · London