Quantitative 3D-Analyse von Netzhautschichten mit Tiefenlernen

EP3530176 Art B1 4. November 2020

Anmelder: Topcon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3530176
Aktenzeichen: EP19158556
Anmeldetag: 21. Februar 2019
Veröffentlichung: 4. November 2020
Erteilung: 4. November 2020
Rechtsraum: EP
IPC: A61B3/10G06T7/40// A61B3/12

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Topcon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Software & Datenverarbeitung

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