Verfahren und System zur Tiefenmessung

EP3534109 Art B1 10. August 2022

Anmelder: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3534109
Aktenzeichen
EP17865985
Anmeldetag
26. Oktober 2017
Veröffentlichung
10. August 2022
Erteilung
10. August 2022
Rechtsraum
EP
IPC
G01C3/00G01C11/06G01C3/08G01C3/14
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Hangzhou Hikvision Digital Technology Co., Ltd.
Land
🇨🇳 China

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Guérin, Jean-Philippe Lyon, Frankreich
176
Patente gesamt
24
Fachgebiete
8
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Medizintechnik & Gesundheit Elektrische Energietechnik Software & Datenverarbeitung Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff) Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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