Vorrichtung zur Unterstützung der Untersuchung von Streifenmusterbildern, Verfahren zur Unterstützung der Untersuchung von Streifenmusterbildern sowie Programm

EP3534329 Art B1 30. August 2023

Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3534329
Aktenzeichen: EP17865753
Anmeldetag: 25. Oktober 2017
Veröffentlichung: 30. August 2023
Erteilung: 30. August 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G06T7/00A61B5/1172// A61B5/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NEC Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Software & Datenverarbeitung

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