Verfahren, Vorrichtung und Computerprogramm zum Messen und Verarbeiten eines Spektrums einer Xuv-Lichtquelle aus Weichen Röntgenstrahlen zu Infrarotwellenlängen
EP3535552
Art A1
11. September 2019
Anmelder: Universiteit Twente 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3535552
- Aktenzeichen
- EP17817219
- Anmeldetag
- 3. November 2017
- Veröffentlichung
- 11. September 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01J1/42G01J3/18G01J3/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Universiteit Twente
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
Fachgebiete
Vertreten von
Peters, Sebastian Martinus
Den Haag, Niederlande
301
Patente gesamt
31
Fachgebiete
14
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Dokter, Hendrik Daniel
NoneApeldoorn