System und Verfahren zur Verbesserung der Genauigkeit einer Position eines Objekts

EP3557191 Art A1 23. Oktober 2019

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3557191
Aktenzeichen: EP18168579
Anmeldetag: 20. April 2018
Veröffentlichung: 23. Oktober 2019
Rechtsraum: EP
IPC: G01D5/34G01D18/00H04N13/111H04N13/246G06T15/00G06F15/18// A61B1/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation Software & Datenverarbeitung

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