Inspektionsvorrichtung, Inspektionsverfahren und Programm

EP3557217 Art B1 13. April 2022

Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3557217
Aktenzeichen: EP17881775
Anmeldetag: 26. Oktober 2017
Veröffentlichung: 13. April 2022
Erteilung: 13. April 2022
Rechtsraum: EP
IPC: G06T7/00G02F1/13G02F1/13357F21V8/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Omron Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

6.711 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von