Abtaster und Rastersondenmikroskop

EP3570045 Art B1 1. Dezember 2021

Anmelder: Osaka University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3570045
Aktenzeichen: EP17891868
Anmeldetag: 7. Dezember 2017
Veröffentlichung: 1. Dezember 2021
Erteilung: 1. Dezember 2021
Rechtsraum: EP
IPC: G01Q10/04G01Q10/02H02N2/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Osaka University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Osaka University

Staatliche Universität in Osaka, Japan, eine der führenden Forschungsuniversitäten des Landes mit Schwerpunkten in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.

2.434 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektrische Energietechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von