Vorrichtung und Verfahren, insbesondere für Mikroskope und Endoskope, mit Verwendung von Basislinienschätzung und Halbquadratischer Minimierung zur Schärfung von Bildern
EP3571663
Art B1
19. August 2020
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3571663
- Aktenzeichen
- EP18734549
- Anmeldetag
- 27. Juni 2018
- Veröffentlichung
- 19. August 2020
- Erteilung
- 19. August 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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