Detektion eines Dünnen Objekts unter Verwendung von Multipolarisierten Millimeterwellensignalen
EP3580579
Art A1
18. Dezember 2019
Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3580579
- Aktenzeichen
- EP18750604
- Anmeldetag
- 8. Februar 2018
- Veröffentlichung
- 18. Dezember 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S7/28G01S13/02G01S13/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Texas Instruments Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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