Eine mit Probentemperatursteuerungsfunktion Ausgestatteter Vorrichtung

EP3588079 Art B1 23. Juni 2021

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3588079
Aktenzeichen: EP19175321
Anmeldetag: 20. Mai 2019
Veröffentlichung: 23. Juni 2021
Erteilung: 23. Juni 2021
Rechtsraum: EP
IPC: G01N30/24G01N30/30F24F13/22B01L7/02G01N35/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verfahrens- & Trenntechnik

Vertreten von