Erhöhte Transistor-Source/drain-Kontaktfläche mit Verwendung einer Source/drain-Opferschicht
EP3588576
Art A1
1. Januar 2020
Anmelder: INTEL Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3588576
- Aktenzeichen
- EP19176633
- Anmeldetag
- 24. Mai 2019
- Veröffentlichung
- 1. Januar 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L29/417H01L29/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- INTEL Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Intel
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.
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