Verfahren zur Herstellung einer Halbleiter-Auf-Isolator-Struktur, insbesondere für einen Frontseitenbildgeber
EP3602617
Art B1
21. April 2021
Anmelder: Soitec 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3602617
- Aktenzeichen
- EP18711364
- Anmeldetag
- 21. März 2018
- Veröffentlichung
- 21. April 2021
- Erteilung
- 21. April 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/762H01L21/205
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Soitec
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Soitec
Französischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Bernin, spezialisiert auf Silicon-on-Insulator (SOI) Substrate. Patente decken Halbleitermaterialien und Waferbondtechnik ab.
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