Detektionsverfahren eines Angriffs durch einen Elektrisch Geladenen Teilchenstrahl auf einen Integrierten Schaltkreis, und Entsprechender Integrierter Schaltkreis

EP3605543 Art B1 11. Mai 2022

Anmelder: STMicroelectronics (Rousset) SAS 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3605543
Aktenzeichen: EP19187991
Anmeldetag: 24. Juli 2019
Veröffentlichung: 11. Mai 2022
Erteilung: 11. Mai 2022
Rechtsraum: EP
IPC: G11C16/22G06F21/75H01L23/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: STMicroelectronics (Rousset) SAS
Land: 🇫🇷 Frankreich

🇫🇷 STMicroelectronics (Rousset)

Französischer Produktionsstandort des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics in Rousset. Der Standort fertigt integrierte Schaltkreise und Halbleiterbauelemente für Automobil-, Industrie- und Konsumelektronik.

321 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung

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