System und Verfahren zur Superauflösenden Optischen Vollfeld-Metrologie auf der Fernfeld-Nanometerskala

EP3610222 Art A1 19. Februar 2020

Anmelder: Université de Strasbourg, Centre National de la Recherche Scientifique 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3610222
Aktenzeichen
EP18720128
Anmeldetag
11. April 2018
Veröffentlichung
19. Februar 2020
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02G01B9/04G02B21/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Université de Strasbourg
Centre National de la Recherche Scientifique
Land
🇫🇷 Frankreich
🇫🇷 Université de Strasbourg

Französische Universität in Straßburg mit breitem Forschungsspektrum in Naturwissenschaften, Medizin und Chemie.

566 Patente in unserer Datenbank

🇫🇷 Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.

7.382 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen