Röntgen- und Partikelabschirmung für Verbesserte Vakuumleitfähigkeit
EP3614397
Art A1
26. Februar 2020
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3614397
- Aktenzeichen
- EP19192034
- Anmeldetag
- 16. August 2019
- Veröffentlichung
- 26. Februar 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G21K1/10G21F3/00H01J37/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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