Vermessungssystem, Scannervorrichtung, Zieleinheit und Vermessungsverfahren
EP3628969
Art B1
10. August 2022
Anmelder: Topcon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3628969
- Aktenzeichen
- EP19199347
- Anmeldetag
- 24. September 2019
- Veröffentlichung
- 10. August 2022
- Erteilung
- 10. August 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01C15/00G01C15/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Topcon Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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